Лаборатория

Институты осмия предлагают ряд анализов с использованием новейших технологий, доступных на рынке.

Аналитика осмия — это специализированный отдел Институтов осмия. Этот отдел анализа материалов также доступен внешним клиентам.

Основные предложения:

Анализ материалов:

Качественный и количественный анализ поверхностей, покрытий, анализ частиц, анализ загрязнений, анализ токсичности, анализ чистоты. Большинство элементов могут быть обнаружены как в твердых, так и в жидких веществах. Анализ материалов обычно используется в следующих областях:

Обследование и документация

Малые объекты, инструменты, детали машин и все другие виды объектов и компонентов измеряются, взвешиваются, сканируются и сохраняются в виде 2D-изображений и 3D-структур.

Повреждения и износ могут быть показаны и отсканированы с экстремальным разрешением. Материалы от ваших поставщиков могут быть проверены.

Производственные допуски на микрометровом уровне точно измеряются и документируются. Картирование частиц на поверхностях может быть выполнено, и производится подсчет определенного количества частиц.

Основные услуги

Ранее основными методами анализа материалов поверхностей были фотоэлектронная спектроскопия (XPS-анализ) и масс-спектрометрия с вторичными ионами (TOF SIMS). Для анализа тонких пленок также часто использовались сканирующая электронная микроскопия (SEM) и рентгеновская микрообласть анализа (EDX) или инфракрасная спектроскопия (IR/ATR).

Все эти техники в настоящее время заменены лазерным анализом материалов, который позволяет работать в гораздо более простых лабораторных условиях и делает подготовку почти полностью ненужной. Особенно скорость и точность метода являются убедительными.

В прошлом приходилось использовать дополнительные методы анализа, если требовалось изучение свойств материала под одним или несколькими покрытиями в дополнение к поверхности.

Наша задача — качественный и количественный анализ чистых материалов, сплавов, руд и смесей. И это как на поверхности, так и под ней.

Анализируется состав базовых материалов и примесей. Для этой цели определяются следующие элементы с точки зрения их доли или, по желанию, создается обзор всех содержащихся и детектируемых элементов или количественных пропорций отдельных заранее определенных элементов. При необходимости отдельные элементы могут быть исключены из цели исследования.

Элементы главной группы:

H, Li, Na, K, Rb, Cs, Be, Mg, Ca, Sr, Ba, B, Al, Ga, In, Tl, C, Si, Ge, Sn, Pb, P, As, Sb, Bi, O, Se, Te, F, Cl, Br, I

Элементы подгруппы:

Sc, Y, Ti, Zr, Hf, V, Nb, Ta, Cr, Mo, W, Mn, Re, Fe, Co, Ni, Pd, Pt, Cu, Zn, Cd, Hg.

Драгоценные металлы:

Ru, Os, Pd, Pt, Rh, Ir, Ag, Au

Лантаноиды:

La, Ce, Pr, Nd, Sm, Eu, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu.

Все количественные результаты измерений относятся к определенному месту на, возможно, неоднородном образце. По этой причине место, где проводился анализ, документируется с помощью изображений.

В качестве альтернативы могут проводиться матричные проверки по поверхностям или определенные области образца идентифицируются и анализируются.

Утверждения о содержании гранулированных образцов сложны без гомогенизации. Поэтому для оценки целостности образца могут быть сформированы средние значения, даже без подготовки. В качестве альтернативы гранулы или части смесей могут быть определены индивидуально.

Для всех образцов степень проникновения может иметь решающее значение для точности измерений. Мы также можем подготовить профильные анализы срезанных образцов через всю глубину образца.