Laboratório

Os institutos Osmium oferecem uma gama de análises utilizando as mais recentes tecnologias disponíveis no mercado.

A Osmium-analyics é um departamento especializado dos Institutos Osmium. Como parte do trabalho com ósmio, o departamento de análise de materiais também está disponível para clientes externos.

Os serviços básicos oferecidos são:

Análise de materiais:

Análise qualitativa e quantitativa de superfícies, revestimentos, análise de partículas, análise de contaminação, análise de substâncias tóxicas, análise de pureza. A maioria dos elementos pode ser detectada tanto em sólidos quanto em líquidos. A análise de materiais é normalmente usada nas seguintes áreas:

Levantamento e documentação

Pequenos objetos, ferramentas, peças de máquinas e todos os outros tipos de objetos e componentes são medidos, pesados, escaneados e armazenados como imagens 2D e estruturas 3D.

Os danos e o desgaste podem ser mostrados e digitalizados em resoluções extremas. Os materiais de seus fornecedores podem ser submetidos a uma inspeção de entrada.

As tolerâncias de fabricação em uma escala de micrômetros são medidas e documentadas com precisão. É possível realizar o mapeamento de partículas em superfícies e realizar contagens definidas de partículas.

Serviços básicos

No passado, a espetroscopia de foto-electrões (análise XPS) ou a espetrometria de massa de iões secundários (TOF SIMS) eram os principais métodos utilizados para a análise de materiais de superfície. Para a análise de películas finas, eram também frequentemente utilizados um microscópio eletrónico de varrimento (SEM) e a análise de micro-gama de raios X (EDX) ou a espetroscopia de infravermelhos (IR/ATR).

Todos estes métodos são atualmente substituídos pela análise de materiais por laser, que permite trabalhar em condições laboratoriais muito mais simples e torna a preparação quase completamente desnecessária. A rapidez e a precisão do método são particularmente convincentes.

No passado, era necessário utilizar métodos adicionais para a análise de uma superfície, se fosse necessário analisar as propriedades do material sob um ou mais revestimentos, para além da superfície.

A nossa tarefa é a análise qualitativa e quantitativa de materiais puros, ligas, minérios e misturas. E isto à superfície e por baixo.

A composição dos materiais de base e das impurezas é analisada. Para este efeito, são detectados os seguintes elementos relativamente à sua proporção ou, em alternativa, é criada uma visão geral de todos os elementos contidos e detectáveis ou das proporções quantitativas de elementos individuais predefinidos. Os elementos individuais podem ser excluídos como alvos da investigação, se necessário.

Elementos do grupo principal:

H, Li, Na, K, Rb, Cs, Be, Mg, Ca, Sr, Ba, B, Al, Ga, In, Tl, C, Si, Ge, Sn, Pb, P, As, Sb, Bi, O, Se, Te, F, Cl, Br, J

Elementos do subgrupo:

Sc, Y, Ti, Zr, Hf, V, Nb, Ta, Cr, Mo, W, Mn, Re, Fe, Co, Ni, Pd, Pt, Cu, Zn, Cd, Hg.

Metais preciosos:

Ru, Os, Pd, Pt, Rh, Ir, Ag, Au

Lantanídeos:

La, Ce, Pr, Nd, Sm, Eu, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu

Todos os resultados quantitativos das medições referem-se a um ponto definido numa amostra possivelmente não homogénea. Por esta razão, a localização da amostra em que a análise foi efectuada é documentada por imagem.

Em alternativa, podem ser efectuados controlos de matriz sobre as superfícies ou identificadas e analisadas áreas definidas da amostra.

As afirmações sobre o conteúdo de amostras granulares são complexas sem homogeneização. Por conseguinte, podem ser formadas médias para se poder avaliar a totalidade da amostra, mesmo sem preparação. Em alternativa, os grânulos ou partes de misturas podem ser determinados individualmente.

Para todas as amostras, o grau de penetração pode ser decisivo para a exatidão das medições. Também temos o prazer de efetuar análises de perfil de amostras cortadas em toda a profundidade da amostra.