Labor

Osmium-Institute bieten eine Reihe von Analysen an, die mit den jeweils neuesten am Markt verfügbaren Technologien durchgeführt werden.

Osmium-analyics ist ein Fachbereich der Osmium-Institute. Im Rahmen der Arbeiten mit Osmium steht die Abteilung zur Materialanalyse auch externen Kunden zur Verfügung.

Die grundlegenden Angebote sind:

Materialanalyse:

Qualitative und quantitative Analytik von Oberflächen, Beschichtungen, Partikelanalytik, Verschmutzungsanalytik, Giftstoffanalyse, Reinheitsanalyse. Die meisten Elemente können dabei sowohl in Feststoffen als auch in Flüssigkeiten detektiert werden. Die Materialanalyse wird in der Regel in den folgenden Bereichen verwendet:

Vermessung und Dokumentation

Kleinstobjekte und Kleinobjekte, Werkzeuge, Maschinenteile und alle weiteren Arten von Objekten und Bauteilen werden vermessen, gewogen, gescannt und als 2D-Bild und 3D-Struktur abgelegt.

Beschädigungen und Abnutzungen können bei extremen Auflösungen gezeigt und gescannt werden. Materialien Ihrer Lieferanten können einer Eingangskontrolle unterzogen werden.

Fertigungstoleranzen im Mikrometermaßstab werden exakt versessen und dokumentiert. Kartierung von Partikeln auf Oberflächen können vorgenommen werden und es werden definierte Partikelzählungen durchgeführt.

Grundservices

In früheren Zeiten wurden für Materialanalysen von Oberflächen vor Allem die Photo-Elektronen-Spektroskopie (XPS-Analyse) oder die Sekundär­ionen­massen­spektrometrie (TOF SIMS) eingesetzt. Bei Dünnschichtanalysen wurde auch häufig mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) und der Röntgenmikrobereichsanalytik (EDX) oder der Infrarot-Spektroskopie (IR/ATR) gearbeitet.

Alle diese Verfahren werden heutzutage durch die laserbasierte Materialanalyse ersetzt, die es erlaubt unter wesentlich einfacheren Laborbedingungen zu arbeiten und die Präparation fast vollständig unnötig macht. Besonders die Schnelligkeit und Genauigkeit des Verfahrens überzeugen.

Es mussten in der Vergangenheit für die Analytik einer Oberfläche weitere Verfahren additional eingesetzt werden, wenn neben der Oberfläche zudem die Materialbeschaffenheit unter einer oder mehreren Beschichtungen analysiert werden sollte.

Unsere Aufgabe ist die qualitative und quantitative Analyse von Reinstoffen, Legierungen, Erzen und Gemengen. Und dies an der Oberfläche und darunter.

Die Zusammensetzung von Grundmaterialien und Verunreinigungen wird analysiert. Die folgenden Elemente werden zu diesem Zweck auf ihren Anteil hin detektiert oder es wird wahlweise ein Überblick über alle enthaltenen und detektierbaren Elemente oder über die quantitativen Anteile einzelner vordefinierter Elemente erstellt. Einzelne Elemente können bei Bedarf als Target der Untersuchung ausgeschlossen werden. 

Hauptgruppenelemente:

H, Li, Na, K, Rb, Cs, Be, Mg, Ca, Sr, Ba, B, Al, Ga, In, Tl, C, Si, Ge, Sn, Pb, P, As, Sb, Bi, O, Se, Te, F, Cl, Br, J

Nebengruppenelemente:

Sc, Y, Ti, Zr, Hf, V, Nb, Ta, Cr, Mo, W, Mn, Re, Fe, Co, Ni, Pd, Pt, Cu, Zn, Cd, Hg

Edelmetalle:

Ru, Os, Pd, Pt, Rh, Ir, Ag, Au

Lanthanoiden:

La, Ce, Pr, Nd, Sm, Eu, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu

Alle quantitativen Ergebnisse der Messungen beziehen sich jeweils auf eine definierte Stelle auf einer möglicherweise inhomogenen Probe. Aus diesem Grund wird bildgebend dokumentiert, an welcher Stelle der Probe die Analytik stattfand.

Alternativ können Matrixchecks über die Oberflächen gezogen werden oder definierte Bereiche der Probe werden ausgewiesen und analysiert. 

Aussagen über die Inhalte granularer Proben sind ohne Homogenisierung komplex. Deshalb können Durchschnitte gebildet werden, um die Gesamtheit der Probe auch ohne Präparation einschätzen zu können. Alternativ können Granalien oder Teile von Gemengen einzeln bestimmt werden. 

Für alle Proben gilt, dass das Maß der Eindringtiefe für die Genauigkeit der Messungen entscheidend sein kann. Gerne erstellen wir von geschnittenen Proben auch Profilanalysen durch die gesamte Tiefe der Probe.